Electronics

Modes de vieillissement et de défaillance de modules IGBT sous cyclage actif à haute température

Published on 31 December 2009 - Congrès national EPF2010

Authors: V. Smet, F. Forest, J.-J. Huselstein, Frédéric Richardeau, M. Berkani, Z. Khatir, Stéphane Lefebvre