Modes de vieillissement et de défaillance de modules IGBT sous cyclage actif à haute température

Publié le 31 décembre 2009 - Congrès national EPF2010

Auteurs : V. Smet, F. Forest, J.-J. Huselstein, Frédéric Richardeau, M. Berkani, Z. Khatir, Stéphane Lefebvre