Engineering Sciences

Analyse par électroluminescence des dégradations de transistor MOSFET en SiC

Published on 31 May 2016 - Symposium de Génie Electrique 2016 - SGE2016

Authors: Tien Anh Nguyen, Echeverri Andres, Mbarek Safa, Niemat Moultif, Pascal Dherbécourt, O. Latry, Eric Joubert