Robustness Study of SiC MOSFET Under Harsh Electrical and Thermal Constraints

Publié le 31 décembre 2013 - CENICS

Auteurs : Mbarek Safa, Pascal Dherbécourt, O. Latry, Francois Fouquet, Othman Dhouha, Mounira Berkani, Stéphane Lefebvre