3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions

Publié le 31 août 2014 - Microelectronics Reliability

Auteurs : Michele Riccio, Vincenzo D’alessandro, Andrea Irace, Gilles Rostaing, Mounira Berkani, Stéphane Lefebvre, Philippe Dupuy