Publié Engineering Sciences Aluminum metallization and wire bonding aging in power MOSFET modules Publié le 31 décembre 2017 - Materials Today: Proceedings Auteurs : R. Ruffilli, M. Berkani, P. Dupuy, Stéphane Lefebvre, Y. Weber, B. Warot-Fonrose, C. Marcelot, M. Legros Voir la publication sur HAL DOI Precedent Retour à la liste Suivant