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BERKANI Mounira

Maître de conférences à l'Université Paris Est Créteil UPEC, ESPE de l'académie de Créteil

Section CNU 63


Curriculum

Mounira Berkani (born Bouarroudj) received her engineer's degree in electronic at Bejaia Univesity in 2003, the master's degree from ENSEEIHT Toulouse in 2005 and the Ph.D. degree in electrical engineering from the École Normale Supérieure de Cachan, in 2008. In 2009, she got a position of assistant professor at the UPEC University (Université Paris Est Créteil - ESPE site de Saint-Denis) and joined the SATIE laboratory (Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie). Her main research topics are related to the reliability and robustness of power components operating under harsh conditions. 





Thèmes de recherche

-           Thermomechanical constraints in PCB embedded converters   

-            Electro-thermal and thermomechanical simulation

-             Failure Analysis



Publications

- Mechanisms of power module source metal degradation during electro-thermal aging, Roberta Ruffilli, Mounira Berkani, Philippe Dupuy, Stephane Lefebvre, Yann Weber, Marc Legros, Microelectronics Reliability, Elsevier, 2017, 
- Surface analysis of smart power top metal: IR thermal measurement and source potential mapping, Mounira Berkani, Stéphane Lefebvre, Gilles Rostaing, Michel Riccio, Roberta Ruffilli, Philippe Dupuy, International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2016 28th, Jun 2016, Prague, Czech Republic. IEEE, 2016,
- Analyse du vieillissement de la métallisation d'un MOSFET par la distribution du potentiel de source, Roberta Ruffilli, Mounira Berkani, Gilles Rostaing, Marc Legros, Stéphane Lefebvre, Philippe Dupuy, Symposium de Genie Electrique, Jun 2016, Grenoble, France
- In-depth investigation of metallization aging in power MOSFETs, Roberta Ruffilli, Mounira Berkani, Philippe Dupuy, Stéphane Lefebvre, Yann Weber, Marc LegrosESREF, 2015, Toulouse, France
- 3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions, Michele Riccio, Vincenzo D'alessandro, Andrea Irace, Gilles Rostaing, Mounira Berkani, Stéphane Lefebvre, Philippe Dupuy, Microelectronics Reliability, Elsevier, 2014, 54 (9-10), pp.1845 - 1850.

Suite des publication accessibles à partir de la base de données HAL


Equipes de rattachement

Pôle CSEE
Groupe EPI

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